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主题：Lattice-based Patterned Fabric Inspection by Using Total Variation with Sparsity and Low-Rank Representations

主讲：张文星 博士、副教授 电子科技大学

时间：2017年12月8日（星期五）下午3:00-4:00

地点：华凤校区二期理科楼B414（数学与信息学院学术会议室）

主办：科研处

承办：数学与信息学院

主讲简介：

　　张文星，分别于南京师范大学和南京大学取得计算数学硕士和博士学位，在法国图卢兹大学完成了博士后研究工作，现为电子科技大学数学科学学院副教授。研究方向为最优化理论与算法、稀疏优化的应用等领域，在SIAM Journal on Imaging Science, Mathematics of Computation, Inverse Problems, IEEE Transactions on Medical Imaging, IEEE Transactions on Image Processing, Computational Optimization and Applications，Journal of Mathematical Imaging and Vision等国际著名期刊发表SCI论文十余篇。曾多次受邀参加重要国际学术会议并作报告，如国际运筹学大会(ISMP), SIAM图像处理会议等。