学术活动

[张文星][Lattice-based Patterned Fabric Inspection by Using Total Variation with Sparsity and Low-Rank Representations][12-8]

外聘专家学术报告第613期

日期:2017年12月06日 阅读: [字体: ]

主题:Lattice-based Patterned Fabric Inspection by Using Total Variation with Sparsity and Low-Rank Representations

主讲:张文星 博士、教授 电子科技大学

时间:2017128日(星期五)下午3:00-4:00

地点:华凤校区二期理科楼B414(数学与信息学院学术会议室)

主办:科研处

承办:数学与信息学院

主讲简介:

  张文星,分别于南京师范大学和南京大学取得计算数学硕士和博士学位,在法国图卢兹大学完成了博士后研究工作,现为电子科技大学数学科学学院副教授。研究方向为最优化理论与算法、稀疏优化的应用等领域,在SIAM Journal on Imaging Science, Mathematics of Computation, Inverse Problems, IEEE Transactions on Medical Imaging, IEEE Transactions on Image Processing, Computational Optimization and ApplicationsJournal of Mathematical Imaging and Vision等国际著名期刊发表SCI论文十余篇。曾多次受邀参加重要国际学术会议并作报告,如国际运筹学大会(ISMP), SIAM图像处理会议等。

责任编辑:李冬梅

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